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標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)：SJ 20129-1992
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用橫斷面顯微鏡法、稱量法、陽極溶解瘁侖法、X射線光譜儉和β反向散射法等測(cè)量金屬鍍覆層厚度的方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于電子器件引線及其他類似產(chǎn)品拿屬鍍覆層厚度的測(cè)量。
英文名稱： Methods for measurement of metallic coating thickness
中標(biāo)分類： 醫(yī)藥、衛(wèi)生、勞動(dòng)保護(hù)>>醫(yī)藥、衛(wèi)生、勞動(dòng)保護(hù)綜合>>C01技術(shù)管理
發(fā)布部門： 中國(guó)電子工業(yè)總公司
發(fā)布日期： 1992-11-19
實(shí)施日期： 1993-05-01
提出單位： 中國(guó)電子工業(yè)總公司科技質(zhì)量局
歸口單位： 中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
起草單位： 機(jī)械電子工業(yè)部第二研究所
起草人： 周心才、陳鵬、張仁土
頁數(shù)： 25頁
出版社： 電子工業(yè)出版社
出版日期： 1993-04-01
