BS EN 2591-507-2002 電氣和光學(xué)連接元件.試驗(yàn)方法.電鍍孔隙率

標(biāo)準(zhǔn)編號: BS EN 2591-507-2002

中文標(biāo)準(zhǔn)名稱: 電氣和光學(xué)連接元件.試驗(yàn)方法.電鍍孔隙率

代替標(biāo)準(zhǔn)號: 97/720226 DC-1997,

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號: V25

標(biāo)準(zhǔn)關(guān)注次數(shù): 30次

標(biāo)準(zhǔn)上傳日期: 2010-4-13

發(fā)布日期: 2002-08-07

實(shí)施日期: 2002-08-07

英文標(biāo)準(zhǔn)名稱: Elements of electrical and optical connection - Test methods - Plating porosity

采用國際標(biāo)準(zhǔn)號: EN 2591-507-2002,IDT;SN EN 2591-507-2002,IDT,

標(biāo)準(zhǔn)類別: 英國標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù): 6P;A4 頁

起草單位: BSI