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電鑄鎳鈷合金中內(nèi)應(yīng)力的影響因素

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核心提示:電鑄鎳鈷合金中內(nèi)應(yīng)力的影響因素

【簡(jiǎn)介】

1前言

    電鑄技術(shù)具有極好的復(fù)制精度和仿真性,能進(jìn)行超精密加工,主要用于制取各種難以用機(jī)械加工方法制得的或是加工成本很高的零件。最近幾年,該技術(shù)被應(yīng)用于制造宇航、原子能、光學(xué)設(shè)備、微機(jī)械等領(lǐng)域的某些微小零件,相對(duì)于其它精密加工技術(shù),具有精度高、無(wú)切削力等特點(diǎn),使得其在這類零部件的制造中受到高度重視并得以深入研究[l-2]

    在電鑄精密零件時(shí),作為零件材料的金屬沉積層應(yīng)當(dāng)具有較高的強(qiáng)度、硬度、耐蝕性和良好的韌性,尤其是合金沉積層的內(nèi)應(yīng)力要低,否則在電沉積過(guò)程中電鑄層開裂或脫模后電鑄層變形,都會(huì)影響零件制品的精度和成品率。

電鑄鎳鈷合金時(shí),采用硫酸鹽體系具有成本低、藥品容易獲得等優(yōu)點(diǎn),但內(nèi)應(yīng)力較大使其應(yīng)用范圍受到較大限制。因此,有必要探討一下內(nèi)應(yīng)力的影響因素。

2實(shí)驗(yàn)

     基本鍍液組成為:200350gL硫酸鎳,3045gL硼酸,3050gL氯化鎳,01gL十二烷基硫酸鈉,315gL硫酸鈷,01—06gL添加劑,電流密度312 Adm2pH 2050,溫度3070。本文主要討論硫酸鈷質(zhì)量濃度、電流密度、pH、溫度及添加劑質(zhì)量濃度對(duì)電鑄層內(nèi)應(yīng)力的影響規(guī)律。

內(nèi)應(yīng)力采用薄片陰極彎曲法[3]測(cè)定,陰極采用8000 mm1×1000 mm×004 mm的鋁箔片。試驗(yàn)前鋁箔經(jīng)清洗、干燥、靜壓碾平,背面用賽璐珞絕緣。陰、陽(yáng)極間距離5 cm,試驗(yàn)槽尺寸為120mm X 70mm×60mm。在各種試驗(yàn)條件下,電鍍至鍍層厚為10μm,測(cè)出陰極長(zhǎng)度及下端偏移量,然后用下式計(jì)算內(nèi)應(yīng)力:

P=E×T2×Z`(3t×L2)

式中尸為鍍層內(nèi)應(yīng)力,PaE為陰極彈性模量,PaT為陰極厚度,mmZ`為陰極下端偏移量,mmt為鍍層厚度,mmL為陰極長(zhǎng)度,mitt

3結(jié)果與討論

31鈷離子質(zhì)量濃度的影響

    l為鍍液中鈷離子質(zhì)量濃度對(duì)電鑄層內(nèi)應(yīng)力的影響。由圖1可知,鈷離子質(zhì)量濃度越高,電鑄層內(nèi)應(yīng)力越大,且系拉應(yīng)力。這種應(yīng)力可以認(rèn)為是兩個(gè)球形粒子為了降低表面能而彼此結(jié)合,形成一個(gè)大的球形粒子而產(chǎn)生的。由于析出原子處于高溫狀態(tài),在隨后的擴(kuò)散和結(jié)晶過(guò)程中借助鍍液或襯底而冷卻:當(dāng)這些受熱原子最終在襯底上得到冷卻時(shí),由于彼此的熱膨脹系數(shù)差引起所謂的熱錯(cuò)配。隨著鍍液中鉆離子質(zhì)量濃度的增加,鍍層中鈷的質(zhì)量分?jǐn)?shù)越高,晶體生長(zhǎng)中三維晶粒尺寸就越大,而尺寸大的兩個(gè)球形粒子結(jié)合所形成的熱錯(cuò)配要比尺寸小的球形粒子結(jié)合形成的熱錯(cuò)配大得多。因此,合金元素鈷質(zhì)量分?jǐn)?shù)的增加會(huì)導(dǎo)致內(nèi)應(yīng)力的升高。

1鈷離子質(zhì)量濃度對(duì)內(nèi)應(yīng)力的影響

Figure l Influence of C02+concentration on inner stress

32電流密度的影響

    2為電流密度對(duì)電鑄層內(nèi)應(yīng)力的影響。

 由圖2可知,當(dāng)電流密度小于6 A/dm2時(shí),隨電流密度的增大,內(nèi)應(yīng)力升高,這與鍍層中鈷質(zhì)量分?jǐn)?shù)降低有關(guān);當(dāng)電流密度大于6 A/dm2時(shí),隨電流密度的增加,內(nèi)應(yīng)力出現(xiàn)下降趨勢(shì),這是由于電流密度過(guò)大導(dǎo)致結(jié)晶粗大、結(jié)構(gòu)松散所造成的。

    有關(guān)文獻(xiàn)[4]顯示,電鑄層的點(diǎn)陣與基體材料點(diǎn)陣間常存在錯(cuò)配現(xiàn)象,因而電鑄層的點(diǎn)陣易于發(fā)生畸變。點(diǎn)陣的錯(cuò)配和畸變,將給電鑄層引入應(yīng)力;基體材料的性能也會(huì)影響電鑄層的應(yīng)力。電鑄層中錯(cuò)配的程度,取決于基體金屬表面的特性。鎳的晶格常數(shù)為35236 AC0原子分?jǐn)?shù)為15%時(shí),Ni-C0合金的晶格常數(shù)為35315 A[5],而鋁合金的晶格常數(shù)為40595 A[6].若將Ni-C0合金鍍?cè)阡X合金上,Ni-C0合金為了與鋁合金的晶格常數(shù)相適應(yīng),就要在界面上伸張,于是Ni-C0合金的晶格就會(huì)收縮;因此,如果沒(méi)有其它內(nèi)應(yīng)力的干擾,Ni-C0合金電鑄層就明顯地顯示出拉應(yīng)力。可以認(rèn)為,電鑄層材料的晶格常數(shù)越大,越接近于鋁合金基體材料,拉應(yīng)力就越小。B—C0的晶格常數(shù)(3544 A)與原子半徑均大于鎳,電鑄層中鈷質(zhì)量分?jǐn)?shù)越高,Ni-C0合金的晶格常數(shù)越大。由此推知,電鑄層中鈷質(zhì)量分?jǐn)?shù)越高,界面附近電鑄層內(nèi)應(yīng)力越小;反之,內(nèi)應(yīng)力就越大。另外,隨著電鑄層厚度的增加,電鑄層與基體之間點(diǎn)陣錯(cuò)配現(xiàn)象引起鍍層拉應(yīng)力的作用逐漸減弱。因此,電流密度小于6 A/dm2時(shí),隨著電流密度的增大,鉆質(zhì)量分?jǐn)?shù)降低,內(nèi)應(yīng)力升高。

33溫度的影響

    3為溫度對(duì)電鑄層內(nèi)應(yīng)力的影響。

3溫度對(duì)內(nèi)應(yīng)力的影響

Figure 3 Influence of temperature on inner stress

    由圖3可知,隨電鑄溫度的升高,電鑄層的內(nèi)應(yīng)力減小,而溫度升高則電鑄層中鈷質(zhì)量分?jǐn)?shù)增加。根據(jù)上述晶格錯(cuò)配理論,可以解釋此現(xiàn)象。

34 pH的影響

    電鑄液的pH可以影響氫的放電電位、堿性?shī)A雜物的沉淀,還可以影響配合物或水合物的組成以及添加劑的吸附程度。但是,對(duì)各種因素的影響程度一般無(wú)法預(yù)見。電鑄過(guò)程中,若pH增大,則陰極效率比陽(yáng)極效率高;pH減小則反之,且pH過(guò)低時(shí)不易結(jié)晶。因此,本實(shí)驗(yàn)中電鑄液pH的試驗(yàn)范圍為2050。圖4pH與鍍層內(nèi)應(yīng)力的關(guān)系。

4 pH對(duì)內(nèi)應(yīng)力的影響

Figure 4 Influence of pH oli inner stress

    由圖4可知,pH<30時(shí),應(yīng)力隨pH的降低而增加。因?yàn)榇藭r(shí)pH越低,陰極效率就越低,即析氫作用越嚴(yán)重,而析出的氫可能以原子或分子形式夾雜在鍍層中,氫在金屬中的擴(kuò)散性很好,能迅速溢出而形成H2,氫的溢出將導(dǎo)致鍍層收縮,從而形成拉應(yīng)力。當(dāng)pH>4時(shí),應(yīng)力又隨pH的升高而增大。這是因?yàn)?SPAN lang=EN-US>pH的升高可能會(huì)導(dǎo)致溶液中氫氧化物沉淀增多,進(jìn)而引起鍍層中氫氧化物的夾雜,即導(dǎo)致應(yīng)力增大。當(dāng)pH3040之間時(shí),內(nèi)應(yīng)力有一個(gè)區(qū)間極值,此時(shí)的內(nèi)應(yīng)力可能是由氫析出和氫氧化物夾雜共同作用引起的,而兩者共同作用的結(jié)果可能消除了一部分內(nèi)應(yīng)力,因此,此pH區(qū)間內(nèi)的內(nèi)應(yīng)力相對(duì)較小。

35添加劑的影響

    當(dāng)需要提高電鑄層的硬度時(shí),往往加入一定量的添加劑;但是,添加劑在提高硬度的同時(shí)也會(huì)給內(nèi)應(yīng)力帶來(lái)影響。本文所用添加劑為含有不飽和基團(tuán)的有機(jī)物。圖5為添加劑質(zhì)量濃度對(duì)電鑄層內(nèi)應(yīng)力的影響。首先說(shuō)明一點(diǎn):當(dāng)鍍液不存在添加劑時(shí),所得電鑄層表現(xiàn)出一定的拉應(yīng)力。

5添加劑質(zhì)量濃度對(duì)內(nèi)應(yīng)力的影響

Figure 5  Influence of additive concentratioILon inner stress

由圖5可知,當(dāng)添加劑質(zhì)量濃度低于02gL時(shí)仍為拉應(yīng)力,高于05gL時(shí)變?yōu)閴簯?yīng)力,而在0205gL之間時(shí),內(nèi)應(yīng)方則完全被消除了。由此可見,添加劑質(zhì)量濃度在0205gL之間時(shí),在顯著提高電鑄層硬度的同時(shí),還具有消除電鑄層內(nèi)應(yīng)力的作用。

4結(jié)論

    (1)內(nèi)應(yīng)力隨鈷離子質(zhì)量濃度的增加而升高,但隨溫度的升高而降低。

    (2)內(nèi)應(yīng)力隨電流密度的增大先升高后降低,在6 Adm2附近時(shí)應(yīng)力最大。pH的影響比較復(fù)雜,pH3045時(shí)應(yīng)力較小。

(3)添加劑質(zhì)量濃度在0205gL之間時(shí),可有效消除內(nèi)應(yīng)力。

參考文獻(xiàn):

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