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摘 要:在微電子元件的貴金屬鍍層上，殘留的鹽分會影響元器件的性能。本文根據(jù)美國試驗(yàn)與材料協(xié)會標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范和國家軍用標(biāo)準(zhǔn)，介紹直接萃取取法測定，并舉例測試結(jié)果。
摘 要:在微電子元件的貴金屬鍍層上，殘留的鹽分會影響元器件的性能。本文根據(jù)美國試驗(yàn)與材料協(xié)會標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范和國家軍用標(biāo)準(zhǔn)，介紹直接萃取取法測定，并舉例測試結(jié)果。
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