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摘 要:對(duì)GB／T 6462-2005進(jìn)行了簡(jiǎn)單介紹，著重介紹了顯微鏡法測(cè)量鍍層和氧化膜厚度的原理、測(cè)量?jī)x器和操作步驟、測(cè)量不確定度廈其控制等，同時(shí)對(duì)橫斷面的制備進(jìn)行了補(bǔ)充說(shuō)明。該方法的突出特點(diǎn)是直現(xiàn)、重現(xiàn)性好，因而常用于仲裁，或檢測(cè)精度要求較高的產(chǎn)品和校驗(yàn)其它測(cè)厚方法。[著者文摘]
摘 要:對(duì)GB／T 6462-2005進(jìn)行了簡(jiǎn)單介紹，著重介紹了顯微鏡法測(cè)量鍍層和氧化膜厚度的原理、測(cè)量?jī)x器和操作步驟、測(cè)量不確定度廈其控制等，同時(shí)對(duì)橫斷面的制備進(jìn)行了補(bǔ)充說(shuō)明。該方法的突出特點(diǎn)是直現(xiàn)、重現(xiàn)性好，因而常用于仲裁，或檢測(cè)精度要求較高的產(chǎn)品和校驗(yàn)其它測(cè)厚方法。[著者文摘]
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