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【簡(jiǎn)介】
為探討初級(jí)X射線與鋁鍍層和鈾工體物質(zhì)、鈾的特征線與鋁鍍層之間的相互作用以及鈾基體的放射性對(duì)測(cè)量鋁厚度的影響程度，提出強(qiáng)度與鍍層厚度關(guān)系的數(shù)學(xué)模型，以及在同一數(shù)學(xué)模型中，根據(jù)鋁鍍層厚度的實(shí)際情況分別選用鈾的M和L線測(cè)定薄樣和厚樣。建立了無(wú)損測(cè)定鈾材料上鋁鍍層厚度（8．2－55．5μm）的測(cè)試方法。對(duì)8．2－18μm的薄試樣，方法的精密度優(yōu)于3％；對(duì)18－－55．5μm的厚試樣，方法的精度密度優(yōu)于5％。
