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紫外光度法測定PCB鍍液中的微量硫脲

放大字體??縮小字體 發(fā)布日期:2011-08-16??瀏覽次數(shù):525 ??關注:加關注
核心提示:紫外光度法測定PCB鍍液中的微量硫脲

1 前言

PCB行業(yè)的化學鍍鎳中,一種以硫酸鎳、乳酸為主的鍍金/鎳液組分中,硫脲起絡合劑的作用,其用量一般在0.018 g/L左右。硫脲的測定常用碘量法[1]、電化學法、分光光度法、比濁分析法及離子色譜法[2]等。由于該鍍液組分中含有大量的鎳離子和乳酸等物質(zhì),對硫脲的測定產(chǎn)生干擾,可用自動滴定儀和紫外分光光度儀聯(lián)合測定,但儀器較貴。本文利用氫氧化鎳在PH9時產(chǎn)生沉淀[3],過濾除去鎳離子,并保持濾液的PH12,降低乳酸的干擾,在波長235nm處,用紫外分光法測定濾液中的微量硫脲。

 

2 實驗

 

本研究采用PCB行業(yè)中化學鍍鎳藥水中的一種組分:硫酸鎳420g/L523g/L,氯化鈉2.5 g/L5.1 g/L,乳酸25g/L64g/L,硫脲0.015g/L0.020g/L

 

2.1 儀器和試劑

 

752紫外可見分光光度儀。

 

硫脲標準溶液:250mg/L。將分析純硫脲用乙醇重結晶2次,于(100±2)℃下烘干備用。準確稱取0.2500g硫脲,溶于蒸餾水中,定容為1000mL,貯存于冰箱中。

 

氫氧化鈉溶液:50%。

 

2.2 鍍液各組分吸收曲線

 

根據(jù)鍍液配方中值的1/5,制得表1溶液,在波長200nm300nm范圍內(nèi),用純水調(diào)零,作各組分的吸收曲線:

 

1

編號

1

2

3

4

5

硫酸鎳(g/L

0

97

97

97

0

氯化鈉(g/L

0.7

0

0.7

0.7

0

乳酸(g/L

9

9

0

9

0

硫脲(mg/L

3.8

3.8

3.8

0

3.8

 

從圖1來看,5號為硫脲的標準吸光曲線,在235nm處有一個較大的標準吸收峰;3號曲線在大于230nm后基本上與5號曲線吻合,說明乳酸對鍍液中硫脲的測定干擾最大;1號曲線的最大吸收峰較2號、4號曲線更接近235nm,說明硫酸鎳對鍍液中硫脲的測定也有干擾;而氯化鈉對鍍液中硫脲的測定無干擾。

 

2.3 條件試驗

 

2.3.1 按鍍液配方中乳酸值的1/5量配制兩個試樣:乳酸溶液和乳酸鈉溶液[用氫氧化鈉溶液(50%)將乳酸溶液調(diào)至PH12]。分別在200nm300nm的波長作吸光曲線。見圖2

 

可見,將乳酸溶液轉(zhuǎn)變成乳酸鈉溶液(PH12),在235nm處基本可消除乳酸對鍍液中硫脲測定的干擾。

 

2.3.2 用氫氧化鈉溶液(50%)處理鍍液,將鍍液中的鎳離子完全產(chǎn)生氫氧化鎳沉淀,濾掉沉淀,濾液(PH12)稀釋5倍,作吸收曲線(λ=200nm300nm)。

 

同時配制一個硫脲溶液(c3mg/LPH6)和一個堿性硫脲溶液(c3mg/LPH12)在波長為200nm300nm范圍內(nèi)作吸收曲線。見圖3

5-處理后鍍液;6-硫脲溶液,PH67-硫脲溶液,PH12

 

可知,在波長小于230nm時,中性硫脲溶液、堿性硫脲溶液以及處理后鍍液各自有自已的吸收峰和吸收值,中性、堿性硫脲溶液的吸收曲線從220nm300nm是吻合的,且在235nm處有最大吸收峰,用氫氧化鈉溶液處理后的鍍液在210nm處有一個最大吸收峰,在235nm處有一個較小的吸收峰,且與硫脲溶液的吸收峰基本相吻,故用氫氧化鈉溶液處理鍍液后的溶液可選擇235nm為測定硫脲的波長,用純水調(diào)零。

 

2.4 硫脲濃度與吸光度的線性關系

 

根據(jù)鍍液配方,先制得不含硫脲的鍍液,分別移取50mL不含硫脲的鍍液置于編號分別為06號的7200mL燒杯中,依次移取硫脲標準溶液(mL0.001.002.003.004.005.006.00置于06號燒杯中,分別進行如下處理:量取10mL氫氧化鈉溶液(50%)邊攪拌邊加入燒杯中,攪勻,用布式漏斗抽濾,收集濾液(無色,若有色則說明鎳離子未完全沉淀除去,應繼續(xù)滴加氫氧化鈉溶液),加35滴氫氧化鈉溶液(50%),攪勻,用三角漏斗過濾(PH12),將濾液定容(純水)于250mL容量瓶中,搖勻。溶液中硫脲的濃度(mg/L)分別為01.02.03.04.05.06.0。于235nm處,以純水為參比液測各標準溶液吸光度,所得數(shù)據(jù)見表2

 

2  硫脲系列標準溶液測定結果(λ=235nm

 

標準溶液吸光度 線性相關系數(shù)

0        1     2     3     4     5     6

0.102 0.213 0.350 0.464 0.580 0.710 0.814

0.9996

0.102 0.213 0.351 0.464 0.580 0.710 0.815

0.101 0.213 0.350 0.464 0.580 0.710 0.815

 

可見,測定波長為235nm時,硫脲濃度在0mg/L6.0mg/L范圍內(nèi)的AC曲線線性好,相關系數(shù)r0.9996(當顯著性水平а=1%時,其臨界值r1-а/20.874),表明應用標準對照法可準確測定以硫酸鎳、乳酸為主的鍍液組分中硫脲含量。

 

3 樣品測定及回收試驗

 

對同一鍍液樣品進行5次平行測定及加標回收測定。移取50.00mL鍍液于200mL燒杯中,加入10mL氫氧化鈉溶液(50%),攪拌均勻,用布式漏斗抽濾,收集濾液,再滴加35滴氫氧化鈉溶液(50%),攪勻,用三角漏斗過濾,濾液定容于250mL容量瓶中,以純水為參比,波長為235nm,測定硫脲含量。加標液時,濾液定容為500mL。結果見表3

 

3  樣品測定及回收試驗

 

單次測定結果(mg 平均值(mgRSD(%)加標量(mg)實測總值(mg 回收率(%)

17.75               17.76     0.3    18.0       35.70         99.8

17.70                                           34.96         97.8

17.79                                           36.35         101.6

17.75                                           35.24         98.5

17.83                                           35.55         99.4

 

從表3知,本方法的相對標準偏差小于1.0%,加標回收率為97.8%~101.6%。本方法用氫氧化鈉溶液(50%)處理以硫酸鎳、乳酸為主的鍍金/鎳液組分后(PH12),再稀釋5倍,可用紫外分光光度儀,在波長235nm處,以純水為參比,1cm3比色皿,測定微量硫脲含量。

 

4 結論

研究結果表明,PCB化學鍍金/鎳中,以硫酸鎳、乳酸為主的鍍金/鎳組分液中微量硫脲,可通過樣品前處理后(PH12),用紫外分光光度儀測定,波長235nm,硫脲濃度在0ug/mL6ug/mL范圍內(nèi),線性系數(shù)r0.9996,相對標準偏差小于1%,加標回收率為97.8%~101.6%。

 

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