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生產(chǎn)集成電路時(shí)由高純銅電鍍形成導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法.pdf

放大字體??縮小字體 發(fā)布日期:2008-01-03??瀏覽次數(shù):479 ??關(guān)注:加關(guān)注
核心提示:生產(chǎn)集成電路時(shí)由高純銅電鍍形成導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法.pdf

【專利號(hào)(申請(qǐng)?zhí)?】00802937.7

【公開(公告)號(hào)】CN1337064

【申請(qǐng)人(專利權(quán))】阿托特德國(guó)有限公司

【申請(qǐng)日期】2000-1-11 0:00:00

【公開(公告)日】2002-2-20 0:00:00

本發(fā)明涉及在生產(chǎn)集成電路時(shí)在半導(dǎo)體基底(晶片)1的表面上由高純銅電鍍形成導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法,該半導(dǎo)體基底的表面具有一些凹穴2。該方法包括下列方法步驟:a.在具有凹穴2的半導(dǎo)體基底1的表面上涂以全表面基礎(chǔ)金屬層,以獲得足以進(jìn)行電解淀積的導(dǎo)電性;b.采用電解金屬淀積法,通過將該半導(dǎo)體基底與銅淀積浴接觸,在該基礎(chǔ)金屬層上全表面淀積均勻?qū)雍竦你~層3,該銅淀積浴包含至少一種銅離子源、至少一種用以控制該銅層物理-機(jī)械性能的添加劑化合物以及Fe(II)/Fe(III)化合物,和在該半導(dǎo)體基底和尺寸穩(wěn)定的、不溶于淀積浴并與其接觸的反電極之間施加電壓,使電流在該半導(dǎo)體基底1和反電極之間流通;c.將該銅層3結(jié)構(gòu)化。

生產(chǎn)集成電路時(shí)由高純銅電鍍形成導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法.pdf
 

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