☆ 單、雙及三層鍍層系統(tǒng) ☆ 雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測(cè)量 ☆ 雙層鍍層,其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測(cè)量和分析(兩層的厚度和合金成分都能被測(cè)量) ☆ 能分析多達(dá)四種金屬成分的合金;
電鍍液中金屬離子含量 ☆ 可編程的應(yīng)用項(xiàng)圖標(biāo),用于快速應(yīng)用項(xiàng)選擇 ☆ 完整的統(tǒng)計(jì)功能,SPC圖,標(biāo)準(zhǔn)的概率圖和矩形圖評(píng)估 ☆ 報(bào)告生成,數(shù)據(jù)輸出 ☆ 語(yǔ)言可選擇:英語(yǔ),德語(yǔ),法語(yǔ),意大利語(yǔ),西班牙語(yǔ),及中文 ☆菜單中的某些選擇項(xiàng)可授權(quán)使用 注:基礎(chǔ)WinFTM軟件版本不允許創(chuàng)建新的應(yīng)用,所要求的應(yīng)用不得不在定貨時(shí)明確。當(dāng)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊與儀器一起定購(gòu)時(shí),可在交貨前預(yù)先創(chuàng)建應(yīng)用。若沒(méi)有定購(gòu)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊,則只可使用已預(yù)裝的*無(wú)需標(biāo)準(zhǔn)塊的測(cè)量應(yīng)用。 ☆ 可選擇的Super WinFTM軟件(訂貨號(hào)602-950)提供了以下的附加功能: ☆ 可隨意創(chuàng)建測(cè)量應(yīng)用 ☆ 可把每種測(cè)量模式的測(cè)量范圍設(shè)定為想要的理論上的測(cè)量精度 ☆ 快速的頻譜分析以決定合金成分
本公司專(zhuān)業(yè)維修膜厚儀X光管更換 還可為客戶(hù)測(cè)試對(duì)比樣品 出售/回收二手FISCHER膜厚儀等等錦霖公司使用設(shè)備FISCHERSCOPE? X-RAY XUL? 和 XDL? 確定電鍍液的金屬離子濃度使用 FMP 系列設(shè)備對(duì)電鍍層進(jìn)行測(cè)量使用 FISCHERSCOPE? HM2000 確定在微米范圍內(nèi)的涂層顯微硬度使用 PICODENTOR? HM500 確定在納米范圍內(nèi)的涂層顯微硬度使用 PHASCOPE? PMP10 測(cè)量小部件的涂層厚度,例如螺栓、螺母和銷(xiāo)釘,測(cè)量時(shí)不受測(cè)量件幾何形狀和表面粗糙度的影響。使用 FISCHERSCOPE? MMS? PC2 在自動(dòng)化生產(chǎn)流程中測(cè)量不同涂層系統(tǒng)的涂層厚度使用 COULOSCOPE? CMS 可以對(duì)任意基底上的幾乎所有金屬層進(jìn)行厚度測(cè)量使用 FISCHERSCOPE? X-RAY XDV?-SDD 確定在納米范圍內(nèi)的電鍍涂層厚度,例如電氣設(shè)備中的 Au/Pd/基底,或是確定 NiP 涂層中的磷含量使用 FISCHERSCOPE? X-RAY 4000 在生產(chǎn)流程中測(cè)量沖壓件和電鍍件上的涂層厚度使用 FISCHERSCOPE? X-RAY XDV?-μ測(cè)量小于 100 μm 的結(jié)構(gòu)和特別小的測(cè)量直接地電路板檢測(cè) FISCHER 是您確保電路板質(zhì)量的最好合作伙伴。 為您提供全面的產(chǎn)品范圍,用于測(cè)量所有實(shí)踐中接觸到的涂層厚度并進(jìn)行分析。 即使是復(fù)雜的多層和合金涂層系統(tǒng),采用最先進(jìn)技術(shù)設(shè)計(jì)的 Fischer 設(shè)備也可以簡(jiǎn)單、快速和精確的進(jìn)行測(cè)量和分析。本公司專(zhuān)業(yè)維修膜厚儀X光管更換 還可為客戶(hù)測(cè)試對(duì)比樣品 出售/回收二手FISCHER膜厚儀等等錦霖公司:鄧生:13826519947 地址:寶安區(qū)沙井新橋洋下大道8號(hào)凱悅大廈1704