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公司基本資料信息
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X射線鍍金層測(cè)厚儀，檢測(cè)電鍍或化學(xué)鍍金層厚度
鍍金層測(cè)量范圍：0.02-5um
鍍鎳層測(cè)量范圍：0.04-30um
韓國(guó)XRF-2000X射線鍍金層測(cè)厚儀
快速無(wú)損檢測(cè)電鍍層厚度，可檢測(cè)鍍金，鍍銀，鍍鎳，鍍錫，鍍鋅，鍍鉻，鍍鈀等
可測(cè)量單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層
單鍍層：如銅上鍍鎳，銅上鍍銀，銅上鍍錫，鐵上鍍鎳等，不限底材
雙鍍層：銅上鍍鎳鍍金，鐵上鍍銅鍍鎳等
多鍍層：鐵上鍍銅鍍鎳鍍銀，銅上鍍鎳鍍鈀鍍金等
合金鍍層：銅上鍍鋅鎳等
XRF-2000X射線鍍層測(cè)厚儀
儀器配置
全自動(dòng)臺(tái)面
自動(dòng)雷射對(duì)焦
多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測(cè)樣品）
測(cè)量樣品高度不超過(guò)3cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測(cè)試范圍：0.04－35um
可測(cè)試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開(kāi)顯示各自厚度.
測(cè)量時(shí)間：15秒
精度控制：
第一層：±5%以內(nèi)
第二層：±8%以內(nèi)
第三層：±12%以內(nèi)
X射線鍍層測(cè)厚儀/X射線金屬鍍層測(cè)厚儀(韓國(guó)先鋒XRF-2000)
韓國(guó)先鋒XRF2000鍍層測(cè)厚儀
XRF-2000鍍層測(cè)厚儀共分三種型號(hào)
不同型號(hào)各種功能一樣
機(jī)箱容納樣品大小有以下不同要求
XRF-2000鍍層測(cè)厚儀型號(hào)介紹
XRF-2000鍍層測(cè)厚儀H型:測(cè)量樣品高度不超過(guò)10cm
XRF-2000電鍍測(cè)厚儀L型:測(cè)量樣品高度不超過(guò)3cm
以上兩款型長(zhǎng)容納樣品長(zhǎng)寬為55cm
XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測(cè)量樣品高度不超3cm(開(kāi)放式設(shè)計(jì),長(zhǎng)寬不限)
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