電子元件高低溫交變濕熱測試設(shè)備,二手老測試廠家

電子元件高低溫交變濕熱測試設(shè)備用途：

    電子元件高低溫交變濕熱測試設(shè)備又稱環(huán)境試驗箱（熱循環(huán)、濕凍、濕熱試驗箱），適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在溫度、濕度、振動、環(huán)境下、檢驗其各性能項指標。 

電子元件高低溫交變濕熱測試設(shè)備振動系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)：  

（1）振動臺系統(tǒng)指示：  

a.振動頻率范圍：5-3000HZ  

b.額定正弦推力：14.2KN  

c.額定隨機推力：14.2KNrsm  

d.最大加速度：784980m/s²  

e.最大速度：2.00m/s  

f.最大位移：51mmp-p  

g.最大負荷：300kg  

（2）電子元件高低溫交變濕熱測試設(shè)備臺體：  

a.運動部件質(zhì)量：18kg  

b.臺面尺寸：￠280mm  

c.容許偏心力矩：300N×m  

d.外形尺寸：990*990*790（mm）  

e.臺體重量：1600kg  

（3）電子元件高低溫交變濕熱測試設(shè)備功率放大器：  

a.最大輸出功率：20KVA  

b.外形尺寸：550*1700*800mm  

c.功率放大器重量：390kg  

d.功率放大器工作方式：開關(guān)  

e.系統(tǒng)所需功率：28KVA  

●電子元件高低溫交變濕熱測試設(shè)備符合標準：電子元件高低溫交變濕熱測試設(shè)備符合GB/T2423.1-2001、GB/T2423.2-2001、GB/T2423.3-93、GB/2423.10-99、JJG190-97 

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